Form Talysurf PGI Optics
用于精密光學(xué)元件的*高精度測量儀器
自從1984年**發(fā)布以來，F(xiàn)orm Taylsurf迅速成為測量非球面形狀誤差的光學(xué)制造商的優(yōu)選。
從那以后，我們在全球范圍內(nèi)安裝了數(shù)千臺儀器，使得Talysurf PGI成為真正的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
我們的磚利PGI(相位光柵干涉儀)技術(shù)使您能夠利用短測針測量大尺寸凹透鏡，實現(xiàn)*高精度的測量。
Taylor Hobson制造的這些觸針具有高剛度和低力度雙重優(yōu)勢，與同類產(chǎn)品相比，帶來更佳的精度和重復(fù)性。
*容易編程
*一鍵測量
*快速、**
*針對生產(chǎn)環(huán)境設(shè)計
*強(qiáng)大的分析工具提高您的產(chǎn)能和生產(chǎn)率
*省時的軟件功能
*自動化軟件程序帶來可重復(fù)的高精度測量
*致力于光學(xué)計量
*新的寬量程測量儀：可測量大尺寸凹透鏡，精度保持不變
測量儀量程：14 / 28mm
系統(tǒng)噪聲： <2nm Rq
測量： 直徑可達(dá)300mm(單軌跡測量)
形狀誤差： <100nm
*60mm/120mm觸針
致力于光學(xué)計量
滿足下一代光學(xué)元件不斷增長的需求
深入的非球面衍射分析：
*輕松分析超過500個區(qū)帶的復(fù)雜衍射
*通過與設(shè)計直接對比來識別區(qū)帶直徑
*輸出衍射形狀誤差用于刀具路徑校正
快速X偏移校正的獨特解決方案：
*顯著縮短SPDT設(shè)置時間
*X偏移和形狀誤差可通過單一分析校正
*提高速度，節(jié)省時間
大直徑光學(xué)元件：
*技術(shù)優(yōu)越的單軌跡測量，長度可達(dá)300mm
*在300mm的全長內(nèi)達(dá)到上等的平直度
*SAG>28mm
散光分析：
*易于編程，使用程序來判定部件中是否存在散光
*輸出平均輪廓用于刀具路徑校正
*三維殘余表面生成，帶來先進(jìn)的更正
配件：
自動化機(jī)動工作臺保證精度：
*增加Y和/或旋轉(zhuǎn)式機(jī)動工作臺，與一個精密的傾斜中央工作臺配合使用
*輕松編寫程序為單個或多個徑向軌跡測量提供選項
*自動化散光分析—結(jié)合多個徑向軌跡測量來查看散光
*確保多個不同的操作員使用時也能獲得一致的**測量。
Form Talysurf PGI Matrix
全自動化的快速、**的系統(tǒng)用于批量光學(xué)元件測量
易于安裝、測試和分析單個或多個部件，使其成為快速、準(zhǔn)確測試光學(xué)元件的理想系統(tǒng)。
Form Talysurf PGI Matrix的增強(qiáng)功能和軟件架構(gòu)支持移動設(shè)備鏡頭、眼科透鏡、醫(yī)療和光纖、高功率LED和晶片透鏡陣列的高速測量
提高測量一致性和準(zhǔn)確性，同時縮短測量循環(huán)時間。Form Talysurf PGI Matrix提供一站式解決方案。
*容易編程
*簡單易用
*超快速
*全自動
*專門針對生產(chǎn)環(huán)境
*Form Talysurf PGI Matrix包含一個高精度旋轉(zhuǎn)式Y(jié)軸臺用于**、自動化的部件定位。
測量儀量程：28mm
噪聲： <4nm Rq
測量： 單一或多部件測量
形狀誤差： <100nm
針對生產(chǎn)環(huán)境設(shè)計：
節(jié)省時間和**，不會損失精度
簡單的復(fù)雜陣列設(shè)置、測量和分析：
*選擇部件設(shè)計來定義陣列布局。
—低密度、PCD、晶片等
*輕松選擇測量和分析數(shù)據(jù)的格式，可以選擇將結(jié)果存儲在選擇的位置
*選擇存儲結(jié)果的位置
*選擇要測量的“批”
*有關(guān)測量通過/失敗的實時反饋，并提供清晰的指示
*自動分析顯示批結(jié)果統(tǒng)計
—允許瀏覽單個部件結(jié)果
*定義完整的脫機(jī)測量并傳輸?shù)絻x器進(jìn)行測量
*只需傳輸結(jié)果文件夾便可脫機(jī)查看和重新分析已完成的測量。
連續(xù)測量
